تاثیر پتانسیل بر عیوب نقطه ای تشکیل شده در لایه رویین فولاد زنگ نزن AISI 316 L

آزمون موت-شاتکی یکی از روش های تعیین نوع -n و یا نوع -p بودن رفتار نیمه هادی لایه رویین و بررسی عیوب موجود در آن است. در این تحقیق ، تاثیر پتانسیل بر عیوب نقطه ای تشکیل شده در لایه رویین فولاد زنگ نزن L 316 در محلو 0/05 مولار اسید سولفوریک برررسی شد. برای تشکیل لایه رویین در بازده پتانسیلی 0/2- تا 0/8VSCE ، فاصله ها 0/1V انتخاب و نمونه ها در پتانسیل های تشکیل مربوطه به مدت 60 دقیقه نگه داری شدند. نتایج آزمون موت- شاتکی نشان داد که رفتار نیمه هادی لایه رویین تشکیل شده تا پتانسیل 0/6VSCE ، به علت چگالی بیش تر دهنده های الکترونی (ND) نسبت به گیرنده های الکترونی (NA) ، نوع -n میباشد . در حالی که در پتانسیل های بالاتر ، به علت افزایش انحلال کاتیون های آهن و کروم که منتج به افزایش چگالی جاهای خلی کاتیونی می شود و همچنین کاهش غلظت بین نشین های کاتیونی ، رفتار نیمه هادی لایه رویین به نوع -p تبدیل شد. همچنین نتایج آزمون موت- شاتکی نشان داد که با افزایش پتانسیل لایه رویین تا 0/6VSCE ، مقادیر چگالی دهنده های الکترونی به طور توانی کاهش می یابد.

کلیدواژه ها:

آزمون موت- شاتکی ، دهنده های الکترونی ، گیرنده های الکترونی ، لایه رویین